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MICRO CONTROL COMPANY是世界領先的老化測試設備製造商。成立於一九七二年的MCC公司為高功率老化測試提供獨立溫控方案和為邏輯/存儲器芯片提供老化測試方案。集成電路老化測試載板的設計以及製作，為不同用戶提供集成電路老化測試整體解決方案。 |
高功率老化測試系統特性
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MCC的老化測試系統具有每槽的圖案區，多個溫度區和每個DUT的獨立溫度控製。在所有128個獨立的 I/O 通道後面，高達64 M的矢量存儲器，滿足不同用戶的低、中和高功率測試要求。 |
| HPB-6 系統 • 單顆最大功率1000W • 獨立溫控，液體冷卻系統 • 可同時放入16塊老化板 • 每板最大4560安培 • 128個獨立I/O，128個純輸出通道。 多達128M矢量深度，超過8G的掃描記憶 • 最大測試頻率10Mhz(並行)/40Mhz(掃描) • 8個時鐘，頻率350Mhz
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HPB-5C+系統 • 獨立溫控，空氣冷卻系統 • 單顆最大功率150W • 128個獨立I/O，多達64M矢量深度， 超過16G的掃描記憶 • 多達800MHz高頻率的時鐘， 10ns定時分辨率 • 每塊Burn-In-board上有16組穩壓器和 1080Amps的DUT電流
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| HPB-4B系統 • 獨立溫控，液體冷卻系統 • 單顆最大功率600W • 每板最大2060安培 • 可同時放入14塊老化板 • 128個獨立I/O，多達64M矢量深度， 超過8G的掃描記憶
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LC-3高性能低成本老化測試系統 • 24」×22.5」(609mm×571mm)老化板， 可同時放入32塊 • 每板功率或電流可達1000W or 544A • 128個獨立I/O，128個輸入通道。 多達32M矢量深度(可升級64M) • 單顆最大功率20W,同時測試1536顆 • 每塊老化板24組電源，16組高功率, 8組低功率 • 最大測試頻率10Mhz(並行)/40Mhz(掃描) • 8個時鐘，頻率350Mhz
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工程開發站（EDS）為單個老化板提供與全功能老化系統相同的測試功能和環境 |
