美國 Bruker
自動化台式納米機械和摩擦測試系統
Hysitron TS 77 Select™ 自動化納米機械和摩擦測試系統是一台具有高性能、多功能性和易用的台式納米壓痕機。這款新型測試系統以 Bruker 著名的TriboScope 電容式傳感器技術為基礎,可在納米至微米長度範圍內測試及提供可靠的機械和摩擦特性。
支援模式包括定量納米壓痕、動態納米壓痕、納米劃痕、納米磨損和高解像度機械特性成像等功能。
TS Select 特性:
• 核心測試技術,包括納米壓痕、動態納米壓痕、納米劃痕、納米磨損和即時 SPM 成像
• 通過電容式傳感器技術,使用靜電力驅動同時提供高靈敏度和低熱漂移
• 具有高速納米壓痕功能,可快速對機械特性進行成像,且獲得具有統計性的數據
• 易於使用的控制軟件,使操作人員能進行可靠的測量
• 滿足 ISO14577 和 ASTM E2546 標淮,提供簡單的測試設置和預先編寫功能
• 系統具有自動校正功能和多樣品自動測試功能,可更快速獲得測試結果
TI-Premier 微納米力學測試系統
• 提供納米力學及納米摩擦磨損性能表征的整體解決方案
• 針對從傳統材料到薄膜材料的納米力學及納米摩擦學定量化表征
• 先進納米力學測試的必備工具,使用 Hysitron 的專利電容傳感器技術能夠實現對 硬度及殘餘模量進行精確表征
• 納米磨損技術實現了材料摩擦學特性的定量化表征
• 原位 SPM 技術通過在實驗前後獲取並對比測試區域表面的納米尺度形貌像,實現 高精度表征的目的
• 多功能兼容化的系統配置能夠輕易實現各種特殊的研究目的
產品優勢
• 三板電容式傳感器
• 優異的數據控制 - 高頻率
• 原位掃描成像 - 高精度
產品應用
• 高分子材料
• 金屬材料
• 納米結構材料
• 合金
• 薄膜材料
納米力學測試設備
Hysitron TI 980 TriboIndenter
世界上最先進的納米力學和納米摩擦學測試系統
• 實現最豐富的潛在測試能力
• Performech ® II 高級控制模塊
• 多個測試頭的耦合
• nanoDMA III:動態納米壓痕
• XPM:快速力學性能成像
• SPM + 實現納米力學測試前後的准確原位成像
• 強大的系統控制和分析
UMT機械性能測試儀
CETR-UMT 是唯一一個能夠在單一平台實現所有三種檢測類型的儀器,主要包括球-盤,針-盤,盤-盤,環-盤和四球的旋轉運動;線性運動的球-盤,針-盤,盤-盤,環-盤及交叉柱;和密封軸承的快-環。
盤 / 盤模塊
配備 1000˚C 高溫腔的盤/盤模塊
配備 300˚C 高溫腔的往復式模塊
納米壓痕模塊
磨損 |
旋轉式,線性,往復式,磨料,微振磨損,磨損,粘滯 |
劃痕 |
附著力,分層,硬度 |
摩擦力 |
靜摩擦,動摩擦,粘滑 |
壓痕 |
初期模量,儲能模量,硬度 |
粘附力 |
拉起,粘滯,劃痕,潤滑,流體動力學,混合潤滑,邊界潤滑 |
環境 |
溫度,濕度,真空,氣氛,腐蝕性 |
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UMT-1 納米材料和薄膜的納米級,微米級力學綜合性能測試,載荷范圍:1 微牛頓 - 10 牛頓
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UMT-2 顯微材料和涂層的微米級力學綜合性能測試,載荷范圍:1 毫牛頓 - 200 牛頓
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UMT-3 金屬,陶瓷材料和潤滑油宏觀尺度力學性能測試,載荷范圍:0.1 牛頓 - 1000 牛頓
Hysitron PI 系列 Picolndenters
SEM 或 TEM 中原位定量納米力學試系統
PI 85E SEM PicoIndenter
多用途原位力學測試平台
• 直接在 SEM 工作台上安裝,操作簡單且具體有卓越的穩定性
• 為最大的樣品傾斜度和最小的工作距離而設計
• 提供一種精巧設計,是 SEMs、拉曼和光學顯微鏡以及光束線等的
理想選擇
PI 88 SEM PicoIndenter
SEM 和 FIB/SEM 的理想搭配
• 真正實現直接觀察條件下的定量納米力學表征
• 帶有可選傾斜和旋轉平台的先進XYZ樣品定位功能
• 模塊化設計,可搭載全套測試技術,包括800°C熱台,劃痕,擴展
量程的傳感器,電學偏壓等等
PI 95 TEM PicoIndenter
在 TEM 中實現的定量納米力學測試
• 第一套為 TEM 設計的最完備的深度傳感壓頭
• 測試模式包括壓入、壓縮、拉伸、彎曲和劃痕
• 特別為主流 TEM 型號 (FEI,Hitachi,JEOL,Zeiss) 而設計,實現完美互動